Investigation of leakage current sites in diamond pn+ junction with electron-beam-induced current technique

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Investigation of leakage current sites in diamond pn+ junction with electron-beam-induced current technique

著者

和文:	室岡拓也, T. Makino, M. Ogura, H. Kato, S. Yamasaki, 岩崎孝之, J. Pernot, 波多野睦子.
英文:	T. Murooka, T. Makino, M. Ogura, H. Kato, S. Yamasaki, T. Iwasaki, J. Pernot, M. Hatano.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2019年3月13日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Hasselt Diamond Workshop 2019 SBDD XXIV

開催地

和文:
英文:	Hasselt