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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
A Method for Determining Trap Distributions of Specific Channel Surfaces in InGaAs Tri-gate MOSFETs
著者
和文:
祢津 誠晃
, M. Hellenbrand, C. B. Zota,
宮本 恭幸
, E. Lind.
英文:
S. Netsu
, M. Hellenbrand, C. B. Zota,
Y. Miyamoto
, E. Lind.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
IEEE Journal of the Electron Devices Society
巻, 号, ページ
Vol. 6 issue. 1 pp. 408-412 (2018).
出版年月
2018年2月19日
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
DOI
https://doi.org/10.1109/JEDS.2018.2806487
©2007
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