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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:A Method for Determining Trap Distributions of Specific Channel Surfaces in InGaAs Tri-gate MOSFETs 
著者
和文: 祢津 誠晃, M. Hellenbrand, C. B. Zota, 宮本 恭幸, E. Lind.  
英文: S. Netsu, M. Hellenbrand, C. B. Zota, Y. Miyamoto, E. Lind.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IEEE Journal of the Electron Devices Society 
巻, 号, ページ Vol. 6    issue. 1    pp. 408-412 (2018).
出版年月 2018年2月19日 
出版者
和文: 
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会議名称
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開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1109/JEDS.2018.2806487

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