A Method for Determining Trap Distributions of Specific Channel Surfaces in InGaAs Tri-gate MOSFETs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A Method for Determining Trap Distributions of Specific Channel Surfaces in InGaAs Tri-gate MOSFETs

著者

和文:	祢津誠晃, M. Hellenbrand, C. B. Zota, 宮本恭幸, E. Lind.
英文:	S. Netsu, M. Hellenbrand, C. B. Zota, Y. Miyamoto, E. Lind.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Journal of the Electron Devices Society

巻, 号, ページ

Vol. 6 issue. 1 pp. 408-412 (2018).

出版年月

2018年2月19日

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI