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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Effect of increasing gate capacitance on the performance of a p-MoS2/HfS2 van der Waals heterostructure tunneling field-effect transistor 
著者
和文: 張 文倫, 祢津 誠晃, 金澤 徹, 雨宮 智宏, 宮本 恭幸.  
英文: W Zhang, S. Netsu, T. Kanazawa, T. Amemiya, Y. Miyamoto.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Jpn. J. Appl. Phys 
巻, 号, ページ 58, SBBH02 (2019)       
出版年月 2019年1月15日 
出版者
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会議名称
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開催地
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DOI https://doi.org/10.7567/1347-4065/aaf699

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