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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:p-MoS2/HfS2 van der Waals Heterostructure Transistor Using Ni Backgate Buried in HfO2 Dielectric 
著者
和文: 張 文倫, 祢津 誠晃, 金澤 徹, 雨宮 智宏, 宮本 恭幸.  
英文: W. Zhang, S. Netsu, T.Kanazawa, T. Amemiya, Y. Miyamoto.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         M-7-03
出版年月 2018年9月13日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:2018 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2018) 
開催地
和文: 
英文:Tokyo 

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