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論文・著書情報


タイトル
和文:レーザーイオン化/収束イオンビームによる単一ナノ粒子の履歴解析装置 : 有機・無機材料のナノ加工とナノスケール質量イメージング 
英文: 
著者
和文: 坂本 哲夫, 藤井正明.  
英文: 坂本 哲夫, Masaaki Fujii.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:化学と工業 = Chemistry and chemical industry 
英文: 
巻, 号, ページ Vol. 63    No. 10    pp. 802-803
出版年月 2010年10月1日 
出版者
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会議名称
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開催地
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