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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Leakage current characteristics of new SrBi4Ti4O 15/CaBi4Ti4O15 thin-film capacitor with excellent electric stability 
著者
和文: Kawahara, H., Tahara, N., Nomura, S., Yamashita, K., Noda, M., Uchida, H., 舟窪浩.  
英文: Kawahara, H., Tahara, N., Nomura, S., Yamashita, K., Noda, M., Uchida, H., HIROSHI FUNAKUBO.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IMFEDK 2013 - 2013 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai 
巻, 号, ページ         pp. 80-81
出版年月 2013年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
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英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1109/IMFEDK.2013.6602250

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