Measurement of piezoelectric transverse and longitudinal displacement with atomic force microscopy for PZT thick films

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Measurement of piezoelectric transverse and longitudinal displacement with atomic force microscopy for PZT thick films

著者

和文:	Kashiwagi, Y., Iijima, T., Aiso, T., Yamamoto, T., Nishida, K., 舟窪浩, Nakajima, T., Okamura, S..
英文:	Kashiwagi, Y., Iijima, T., Aiso, T., Yamamoto, T., Nishida, K., HIROSHI FUNAKUBO, Nakajima, T., Okamura, S..

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Materials Research Society Symposium Proceedings

巻, 号, ページ

Vol. 1318 pp. 167-172

出版年月

2011年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
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DOI