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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Theoretical prediction of strain-induced carrier effective mass modulation in 4H-SiC and GaN 
著者
和文: 黒岩 祐一郎, 松下 雄一郎, 原田 航, 大場 史康.  
英文: Y. Kuroiwa, Y. Matsushita, K. Harada, F. Oba.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Applied Physics Letters 
巻, 号, ページ vol. 115        pp. 112102
出版年月 2019年8月 
出版者
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会議名称
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開催地
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公式リンク https://aip.scitation.org/doi/10.1063/1.5122215
 
DOI https://doi.org/10.1063/1.5122215

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