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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Synchrotron X-ray CT imaging of processing-induced defects formed during sintering of alumina 
著者
和文: 大熊 学, 渡辺 修平, 篠部 寛, 西山 宣正, 竹内 晃久, 上杉 健太朗, 田中 諭, 若井 史博.  
英文: Gaku OKUMA, Shuhei WATANABE, Kan SHINOBE, Norimasa NISHIYAMA, Akihisa TAKEUCHI, Kentaro UESUGI, Satoshi TANAKA, Fumihiro WAKAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2019年12月12日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:MATERIALS RESEARCH MEETING 2019 (MRM2019) 
開催地
和文:横浜 
英文: 

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