ホットスポットテストケースに用いられるデータベースの分析

論文・著書情報

タイトル

和文:	ホットスポットテストケースに用いられるデータベースの分析
英文:	Analysis of databases used for hot spot test cases

著者

和文:	小椋弘貴, 高橋秀和, 佐藤真平, 高橋篤司.
英文:	Hiroki Ogura, Hidekazu Takahashi, Shimpei Sato, Atsushi Takahashi.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	電子情報通信学会技術研究報告
英文:	Technical Committee on VLSI Design Technologies, IEICE Technical Report (VLD2019-52)

巻, 号, ページ

Vol. 119 No. 282 pp. 191-196

出版年月

2019年11月

出版者

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会議名称

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開催地

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