Degradation analysis and current collapse imaging of AlGaN/GaN HEMTs by measurement of electric field-induced optical second-harmonic generation

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Degradation analysis and current collapse imaging of AlGaN/GaN HEMTs by measurement of electric field-induced optical second-harmonic generation

著者

和文:	Katsuno, T., 間中孝彰, Ishikawa, T., Ueda, H., Uesugi, T., 岩本光正.
英文:	Katsuno, T., Takaaki Manaka, Ishikawa, T., Ueda, H., Uesugi, T., MITSUMASA IWAMOTO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Microelectronics Reliability

巻, 号, ページ

Vol. 54 No. 9-10 pp. 2227-2231

出版年月

2014年

出版者

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会議名称

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開催地

和文:
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DOI