Impact of the interfacial traps on the charge accumulation in organic transistors

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Impact of the interfacial traps on the charge accumulation in organic transistors

著者

和文:	Lee, K., Weis, M., Chen, X., 間中孝彰, Iwamoto, M..
英文:	Lee, K., Weis, M., Chen, X., Takaaki Manaka, Iwamoto, M..

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Experimental Nanoscience

巻, 号, ページ

Vol. 9 No. 10 pp. 994-1002

出版年月

2014年

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI