Turn-Off Loss Improvement by IGBT Scaling

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Turn-Off Loss Improvement by IGBT Scaling

著者

和文:	M. Fukui, T. Saraya, K. Itou, T. Takakura, S. Suzuki, K. Takeuchi, 角嶋邦之, 星井拓也, 筒井一生, 岩井洋, S. Nishizawa, I. Omura, T. Hiramoto.
英文:	M. Fukui, T. Saraya, K. Itou, T. Takakura, S. Suzuki, K. Takeuchi, K. Kakushima, T. Hoshii, K. Tsutsui, H. Iwai, S. Nishizawa, I. Omura, T. Hiramoto.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2019年5月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Int. Conf. on Solide State Devices and Materials (SSDM2019)

開催地

和文:
英文:	Nagoya