3D Atomic Imaging of As Doped in Si by Spectro-Photoelectron Holography

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	3D Atomic Imaging of As Doped in Si by Spectro-Photoelectron Holography

著者

和文:	筒井一生, Tomohiro Matsushita, 室隆桂之, Yoshitada Morikawa, 名取鼓太郎, 星井拓也, 角嶋邦之, 若林整, Kouichi Hayashi, Fumihiko Matsui, 木下豊彦.
英文:	Kazuo Tsutsui, Tomohiro Matsushita, Takayuki Muro, Yoshitada Morikawa, Kotaro Natori, Takuya Hoshii, Kuniyuki Kakushima, Hitoshi Wakabayashi, Kouichi Hayashi, Fumihiko Matsui, Toyohiko Kinoshita.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2019年11月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	8th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-8)

開催地

和文:
英文:	Sendai