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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Recent research trends in point defects in copper iodide semiconductors 
著者
和文: 小安 智士, 宮内 雅浩.  
英文: S. Koyasu, M. Miyauchi.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Electronic Mater. 
巻, 号, ページ Vol. 49        p. 907
出版年月 2019年11月12日 
出版者
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会議名称
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開催地
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英文: 

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