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論文・著書情報


タイトル
和文:シリコン量子ドットの高帯域測定に向けた極低温アンプの評価 
英文: 
著者
和文: 西山 伸平, 小林 瑞基, 溝口 来成, 小寺 哲夫.  
英文: Shimpei Nishiyama, 小林 瑞基, Raisei Mizokuchi, Tetsuo Kodera.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2019年3月10日 
出版者
和文: 
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会議名称
和文:第66回応用物理学会春季学術講演会 
英文: 
開催地
和文:東京都 
英文: 

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