Fabrication and Characterization of a Ferroelectric-Gate FET With a ITO/PZT/SRO/Pt Stacked Structure

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Fabrication and Characterization of a Ferroelectric-Gate FET With a ITO/PZT/SRO/Pt Stacked Structure

著者

和文:	TRONG TUE PHAN, Bui Nguyen Quoc Trinh, 宮迫毅明, 徳光永輔, 下田達也.
英文:	Phan Trong Tue, Bui Nguyen Quoc Trinh, Takaaki Miyasako, Eisuke Tokumitsu, Tatsuya Shimoda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 32-35

出版年月

2011年1月20日

出版者

和文:
英文:	IEEE

会議名称

和文:
英文:	The 22nd International Conference on Microelectronics

開催地

和文:
英文: