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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Hole Trapping in Gallium Oxide from First Principles 
著者
和文: 我毛 智哉, 熊谷 悠, 大場 史康.  
英文: T. Gake, Y. Kumagai, F. Oba.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2019年6月14日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:The 6th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC6) 
開催地
和文:名古屋市 
英文:Nagoya 

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