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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Characterization of interface state density of three-dimensional Si nanostructure by charge pumping measurement 
著者
和文: DOU CHUN MENG, 小路 智也, 中島 一裕, 角嶋 邦之, AHMET PARHAT, 片岡 好則, 西山 彰, 杉井 信之, 若林 整, 筒井 一生, 名取 研二, 岩井 洋.  
英文: "Chunmeng Dou", "Tomoya Shoji", "Kazuhiro Nakajima", "Kuniyuki Kakushima", "Parhat Ahmet", "Yoshinori Kataoka", "Akira Nishiyama", "Nobuyuki Sugii", "Hitoshi Wakabayashi", "Kazuo Tsutsui", "Kenji Natori", "Hiroshi Iwai".  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Microelectronics Reliability 
巻, 号, ページ Vol. 54        pp. 725-729
出版年月 2014年4月 
出版者
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会議名称
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開催地
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英文: 
DOI https://doi.org/10.1016/j.microrel.2013.11.016

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