Crystal Growth and Characterization of Topological Insulator BiSb Thin Films by Sputtering Deposition for SOT-MRAM Applications

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Crystal Growth and Characterization of Topological Insulator BiSb Thin Films by Sputtering Deposition for SOT-MRAM Applications

著者

和文:	脱凡, Tobah Mustafa, 白倉孝典, NGUYEN Khang H D, PHAM NAM HAI.
英文:	Tuo Fan, Mustafa Tobah, Takanori Shirokura, Nguyen Huynh Duy Khang, Pham Nam Hai.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2020年9月27日

出版者

和文:
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会議名称

和文:
英文:	SSDM 2020

開催地

和文:
英文: