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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Crystal Growth and Characterization of Topological Insulator BiSb Thin Films by Sputtering Deposition for SOT-MRAM Applications 
著者
和文: 脱 凡, Tobah Mustafa, 白倉 孝典, NGUYEN Khang H D, PHAM NAM HAI.  
英文: Tuo Fan, Mustafa Tobah, Takanori Shirokura, Nguyen Huynh Duy Khang, Pham Nam Hai.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2020年9月27日 
出版者
和文: 
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会議名称
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英文:SSDM 2020 
開催地
和文: 
英文: 

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