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論文・著書情報


タイトル
和文:イオンビーム及びX線照射に伴う模擬文化財試料の損傷のFT-IR測定 
英文: 
著者
和文: 小栗慶之, 長谷川 純, 福田一志, 羽倉尚人.  
英文: YOSHIYUKI OGURI, Jun Hasegawa, hitoshi fukuda, Naoto Hagura.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2020年3月16日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:日本原子力学会2020年春の年会 
英文: 
開催地
和文:福島県福島市 
英文: 

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