パッシブ中性子線断層撮影法を用いた非破壊測定技術の開発と部分 欠損検認への適用可能性

論文・著書情報

タイトル

和文:	パッシブ中性子線断層撮影法を用いた非破壊測定技術の開発と部分欠損検認への適用可能性
英文:	Development of Non-destructive Assay Technique using Passive Neutron Emission Tomography and Applicability for Partial Defect Verification

著者

和文:	徳田崇哉, 柴茂樹, 相樂洋.
英文:	Takaya Tokuda, Shigeki Shiba, Hiroshi SAGARA.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
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巻, 号, ページ

出版年月

2020年11月

出版者

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会議名称

和文:	第41 回日本核物質管理学会年次大会
英文:	the 41st Annual Meeting of INMM Japan Chapter

開催地

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