Temperature measurement and annealing behavior of silicon vacancies in 4H-SiC

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Temperature measurement and annealing behavior of silicon vacancies in 4H-SiC

著者

和文:	HOANG MINH TUAN, 増山雄太, 石綿整, Yuichi Yamazaki, Shin-ichiro Sato, Takeshi Ohshima, 岩崎孝之, 久本大, 波多野睦子.
英文:	Minh Tuan Hoang, Yuta Masuyama, Hitoshi Ishiwata, Yuichi Yamazaki, Shin-ichiro Sato, Takeshi Ohshima, Takayuki Iwasaki, Digh Hisamoto, Mutsuko Hatano.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2019年12月17日

出版者

和文:
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会議名称

和文:
英文:	The 2nd International Forum on Quantum Metrology and Sensing

開催地

和文:
英文:	Kyoto