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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Causal characteristic impedance determination using calibration comparison and propagation constant 
著者
和文: 天川 修平, Atsushi Takeshige, 原 紳介, 董 鋭冰, 李 尚曄, 吉田 毅, 藤島 実, 益 一哉, 伊藤 浩之.  
英文: Shuhei Amakawa, Atsushi Takeshige, Shinsuke Hara, Ruibing Dong, Sangyeop Lee, Takeshi Yoshida, Minoru Fujishima, Kazuya Masu, Hiroyuki Ito.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2019年1月 
出版者
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会議名称
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英文:IEEE ARFTG Microwave Measurement Conference 
開催地
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英文: 

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