放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析~MLCCの電極構造形成プロセス~ | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析~MLCCの電極構造形成プロセス~
英文:

著者

和文:	大熊学, 斉藤直哉, 若井史博, 竹内晃久, 上杉健太朗, 水野高太郎, 岩崎誉志紀, 岸弘志.
英文:	Gaku Okuma, Naoya Saito, FUMIHIRO WAKAI, 竹内晃久, 上杉健太朗, 水野高太郎, 岩崎誉志紀, 岸弘志.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2021年1月

出版者

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会議名称

和文:	バルクセラミックスの信頼性に関するワークショップ
英文:

開催地

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