サイドチャネル攻撃の並列実装におけるシステムノイズの評価: 遺伝的アルゴリズムとの比較 | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	サイドチャネル攻撃の並列実装におけるシステムノイズの評価: 遺伝的アルゴリズムとの比較
英文:

著者

和文:	工藤黎, 菅原健, 崎山一男, 原祐子, 李陽.
英文:	工藤黎, 菅原健, 崎山一男, Yuko Hara-Azumi, 李陽.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2021年1月20日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:	暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS)
英文:

開催地

和文:
英文:

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.