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論文・著書情報


タイトル
和文:半導体中の不純物状態の新たな定量的予測方法 
英文: 
著者
和文: 齋藤晋, 藤本義隆, 山下寛樹, 芳賀太史.  
英文: Susumu Saito, Yoshitaka Fujimoto, Hiroki Yamashita, Taishi Haga.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2019年3月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:日本物理学会第74回年次大会 
英文: 
開催地
和文:福岡 
英文: 

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