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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Reliability analysis of electronic device by using synchrotron X-ray nano-CT : Microstructural evolution of electrodes of MLCC 
著者
和文: 大熊 学.  
英文: Gaku Okuma.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2021年12月6日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:9th Tsukuba International Coating Symposium 
開催地
和文:つくば 
英文: 

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