CMOS論理回路におけるTIDの影響評価

論文・著書情報

タイトル

和文:	CMOS論理回路におけるTIDの影響評価
英文:	Evaluation of TID effect in CMOS logic circuits

著者

和文:	安藤幹, 大島佑太, 平川顕二, 岩瀬正幸, 小笠原宗博, 依田孝, 石原昇, 伊藤浩之.
英文:	Motoki Ando, Yuta Oshima, Kenji Hirakawa, Masayuki Iwase, Munehiro Ogasawara, Takashi Yoda, Noboru Ishihara, Hiroyuki Ito.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
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巻, 号, ページ

出版年月

2019年3月19日

出版者

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会議名称

和文:	2019年電子情報通信学会総合大会
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開催地

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