Minority Carrier Lifetime Measurement for SiC Epitaxial Layer

論文・著書情報

タイトル

和文:	SiCエピタキシャル層の少数キャリア寿命の測定手法の提案
英文:	Minority Carrier Lifetime Measurement for SiC Epitaxial Layer

著者

和文:	佐々木杏民, 宋禛漢, 星井拓也, 若林整, 筒井一生, 水島一郎, 依田孝, 角嶋邦之.
英文:	K. Sasaki, J. Song, T. Hoshii, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, I. Mizushima, T. Yoda, K. Kakushima.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2018年11月

出版者

和文:
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会議名称

和文:	先進パワー半導体分科会第5回講演会
英文:	The 5th Meeting on Advanced Power Semiconductors

開催地

和文:	京都
英文: