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論文・著書情報


タイトル
和文:ひずみゲージによる磁歪の測定 
英文: 
著者
和文: 蔡 一飛, 千葉 明, 吉崎聡一郎.  
英文: Ihi Sai, Akira Chiba, 吉崎聡一郎.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 91-92
出版年月 2022年3月23日 
出版者
和文: 
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会議名称
和文:令和4年電気学会全国大会 
英文: 
開催地
和文: 
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