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タイトル
和文:P型とN型のFETサイズ比が異なるCMOS論理回路へのγ線照射の影響 
英文:Effect of γ-Ray Irradiation on CMOS Logic Circuits with Different P-Type and N-Type FET Size Ratios 
著者
和文: 木村有佐, 吉田僚一郎, 安藤幹, 大島佑太, 鍋屋信介, 平川顕二, 岩瀬正幸, 小笠原宗博, 依田孝, 石原昇, 伊藤浩之.  
英文: Arisa Kimura, Ryoichiro Yoshida, Motoki Ando, Yuta Oshima, Shinsuke Nabeya, Kenji Hirakawa, Masayuki Iwase, Munehiro Ogasawara, Takashi Yoda, Noboru Ishihara, Hiroyuki Ito.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
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巻, 号, ページ        
出版年月 2021年9月15日 
出版者
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会議名称
和文:2021年 電子情報通信学会ソサイエティ大会 
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開催地
和文: 
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