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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Lateral thickness change of the high-k film on GaN HEMT for uniform electric field 
著者
和文: 宮本 恭幸, 牧山 剛三.  
英文: Y. Miyamoto, K. Makiyama.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2022年8月20日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:14th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics, (TWHM 2022) 
開催地
和文:広島 
英文: 

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