(Invited) High Thermal Reliability and High Spin Hall Angle Observed in SOT-Reader Thin Films Using BiSbX Topological Insulators
著者
和文:
B.R. York,
Q. Le,
X. Liu,
S. Okamura,
C. Hwang,
M.A. Gribelyuk,
S. Le,
J. Liu,
R. Simmons,
M. Maeda,
脱 凡,
Y. Tao,
J. Ohno,
H. Takano,
PHAM NAM HAI,
HO HOANG HUY,
南波 章太.
英文:
B.R. York,
Q. Le,
X. Liu,
S. Okamura,
C. Hwang,
M.A. Gribelyuk,
S. Le,
J. Liu,
R. Simmons,
M. Maeda,
F. Tuo,
Y. Tao,
J. Ohno,
H. Takano,
P.N. Hai,
H. H. Huy,
S. Namba.
各種検索
サポート
ヘルプ