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論文・著書情報


タイトル
和文:単電子輸送のエラーレート評価におけるベイズ推定の活用 
英文: 
著者
和文: 坂本 剛, 高橋 一斗, 近藤 知宏, 溝口 来成, 小寺 哲夫, 米田 淳.  
英文: Go Sakamoto, Kazuto Takahashi, Chihiro Kondo, Raisei Mizokuchi, Tetsuo Kodera, Jun Yoneda.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2023年8月19日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第84回 応用物理学会秋季学術講演会 
英文: 
開催地
和文:熊本 
英文: 

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