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タイトル
和文:Accumulation-Mode積層型ナノワイヤCMOSデバイスのチャネル不純物濃度およびゲート電極仕事関数の依存性 
英文: 
著者
和文: 安重 英祐, 大橋 匠, 宗田 伊理也, 角嶋 邦之, 筒井 一生, 若林 整.  
英文: Eisuke Anju, Takumi Ohashi, Iriya Muneta, Kuniyuki KAKUSHIMA, KAZUO TSUTSUI, Hitoshi Wakabayashi.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2016年9月14日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:第77回応用物理学会秋季学術講演会 
英文:77th JSAP Autumnmeeting 
開催地
和文:新潟 
英文:Niigata 

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