Suppression of decay time in transient drain current of back-gated GaN HEMT under UV exposure

論文・著書情報

タイトル

和文:	Suppression of decay time in transient drain current of back-gated GaN HEMT under UV exposure
英文:	Suppression of decay time in transient drain current of back-gated GaN HEMT under UV exposure

著者

和文:	Atsuki Miyata, T. Hoshii, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, K. Kakushima, 星井拓也.
英文:	Atsuki Miyata, T. Hoshii, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, K. Kakushima, Takuya Hoshii.

言語

English

掲載誌/書名

和文:	Japanese Journal of Applied Physics
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

出版年月

2022年7月1日

出版者

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会議名称

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開催地

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