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タイトル
和文:Suppression of decay time in transient drain current of back-gated GaN HEMT under UV exposure 
英文:Suppression of decay time in transient drain current of back-gated GaN HEMT under UV exposure 
著者
和文: Atsuki Miyata, T. Hoshii, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, K. Kakushima, 星井拓也.  
英文: Atsuki Miyata, T. Hoshii, H. Wakabayashi, K. Tsutsui, K. Kakushima, Takuya Hoshii.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文:Japanese Journal of Applied Physics 
英文:Japanese Journal of Applied Physics 
巻, 号, ページ        
出版年月 2022年7月1日 
出版者
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会議名称
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開催地
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公式リンク https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac6216
 
DOI https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac6216

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