シリコン量子ドットにおける多正孔スピン状態の緩和時間測定 | T2R2 東京工業大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	シリコン量子ドットにおける多正孔スピン状態の緩和時間測定
英文:

著者

和文:	近藤知宏, 溝口来成, 坂本剛, 土屋龍太, 峰利之, 久本大, 水野弘之, 米田淳, 小寺哲夫.
英文:	Chihiro Kondo, Raisei Mizokuchi, Go Sakamoto, 土屋龍太, 峰利之, 久本大, 水野弘之, Jun Yoneda, Tetsuo Kodera.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2024年3月22日

出版者

和文:
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会議名称

和文:	第71回応用物理学会春季学術講演会
英文:

開催地

和文:	東京
英文:

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