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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Investigation of Effects of Applied Voltage on Effective Young’s modulus of Ti/Au Multi-Layered Micro-Cantilevers” New Method of Damage and Failure Analysis of Structural Part
著者
和文:
渡邉 春海
,
栗岡 智行
,
陳 君怡
,
Chang Tso-Fu Mark
,
TENNETI DEVI
,
町田 克之
,
伊藤 浩之
,
三宅 美博
,
曽根 正人
.
英文:
Shunkai Watanabe
,
Tomoyuki Kurioka
,
Chun-Yi Chen
,
Tso-Fu Mark Chang
,
Tenneti Devi Srujana
,
Katsuyuki Machida
,
Hiroyuki Ito
,
Yoshihiro Miyake
,
Masato Sone
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
New Method of Damage and Failure Analysis of Structural Part
巻, 号, ページ
出版年月
2024年10月14日
出版者
和文:
英文:
CPIT2024, New Method of Damage and Failure Analysis of Structural Part
会議名称
和文:
英文:
CPIT2024, New Method of Damage and Failure Analysis of Structural Part
開催地
和文:
英文:
OSTRAVA,
©2007
Tokyo Institute of Technology All rights reserved.