Analysis of Trench Defects in InGaN Single Quantum Well by Photon Correlation Mapping

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Analysis of Trench Defects in InGaN Single Quantum Well by Photon Correlation Mapping

著者

和文:	柳本宗達, 山本直紀, 三宮工, 秋葉圭一郎.
英文:	Sotatsu Yanagimoto, Naoki Yamamoto, Takumi Sannomiya, Keiichirou Akiba.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2023年12月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2023 Tokyo Institute of Technology - Dalian University of Technology Joint Workshop on Advanced Materials and Chemical Technology,

開催地

和文:
英文:	Ookayama