Characterization of anisotropic stress relaxation in strained silicon nanowires via polarized Raman microscopy using a high NA lens

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of anisotropic stress relaxation in strained silicon nanowires via polarized Raman microscopy using a high NA lens

著者

和文:	オグチマリアヴァネッサバロイス, 早澤紀彦, Alvarado Tarun, Oussama Moutanabbir, Satoshi Kawata.
英文:	Maria Vanessa Balois, Norihiko Hayazawa, Alvarado Tarun, Oussama Moutanabbir, Satoshi Kawata.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2013年11月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:	Discovery Evening
英文:	Discovery Evening

開催地

和文:
英文:	Wako, Saitama