Integrated Testing Strategy of Wafer and Chip-level Characterization for  Photonic Integrated Circuits

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Integrated Testing Strategy of Wafer and Chip-level Characterization for Photonic Integrated Circuits

著者

和文:	Eissa Moataz, 堀川剛, 吉田俊, 西山伸彦.
英文:	Moataz Eissa, Tsuyoshi Horikawa, Suguru Yoshida, Nobuhiko Nishiyama.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2025年7月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	30th OptoElectronics and Communications Conference

開催地

和文:
英文:	Sapporo Convention Center