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論文・著書情報


タイトル
和文:異種材料集積光エレクトロニクスに向けたウェハレベルテスティング 
英文:Wafer-level Testing Technology for Heterogenous Material Integrated Optoelectronics 
著者
和文: 堀川 剛.  
英文: Tsuyoshi Horikawa.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2025年2月6日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:光産業技術シンポジウム 
英文:The Symposium on Optoelectronics Industry and Technology 
開催地
和文:東京 
英文:Tokyo 

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