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論文・著書情報


タイトル
和文:OFDR法を用いたウェーハレベル光集積デバイス特性検査(3) ‐O帯及びC帯Si細線導波路の分布反射係数の線幅依存性‐ 
英文: 
著者
和文: 堀川 剛, 西山 伸彦.  
英文: Tsuyoshi Horikawa, Nobuhiko Nishiyama.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2025年9月8日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電子情報通信学会ソサイエティ大会 
英文: 
開催地
和文:岡山 
英文: 

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