Progress of fabrication and characterization of double quanutm dots on a Leti Ge wafer

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Progress of fabrication and characterization of double quanutm dots on a Leti Ge wafer

著者

和文:	WENChutian, 荒川雄登, JIANGBO, 松岡竜太郎, 溝口来成, J.M. Hartmann, P. A. Mortemousque, 小寺哲夫.
英文:	Chutian Wen, Yuto Arakawa, Bo Jiang, Ryutaro Matsuoka, Raisei Mizokuchi, J.M. Hartmann, P. A. Mortemousque, Tetsuo Kodera.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2026年12月15日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	1st International Workshop on Industrial-grade Ge Quantum Technology (InGeQT workshop 2025)

開催地

和文:
英文:	Osaka