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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Log-likelihood ratio test for improving accuracy in silicon spin qubit readout 
著者
和文: 溝口来成, 和田陸久, 松岡竜太郎, 太田俊輔, I. Yanagi, T. Mine, 土屋 龍太, 久本大, 水野弘之, 小寺哲夫.  
英文: Raisei Mizokuchi, Riku Wada, Ryutaro Matsuoka, Shunsuke Ota, I. Yanagi, T. Mine, Ryuta Tsuchiya, Digh Hisamoto, H. Mizuno, Tetsuo Kodera.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2026年12月16日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:1st International Workshop on Industrial-grade Ge Quantum Technology (InGeQT workshop 2025) 
開催地
和文: 
英文:Osaka 

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