国際会議発表 (査読有り)

• Takanori Date, Shiho Hagiwara, Kazuya Masu, Takashi Sato. Robust importance sampling for efficient SRAM yield analysis, International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), pp. 15-21, Mar. 2010.

国内会議発表 (査読有り)

• 伊達貴徳, 萩原 汐, 益 一哉, 佐藤高史. 超球の一部を用いた歩留り推定における不良領域の効率的探索手法, VLSI設計技術研究会，電子情報通信学会技術研究報告, VLSI設計技術研究会，電子情報通信学会技術研究報告, VLSI設計技術研究会，電子情報通信学会技術研究報告, pp. 37-42, Mar. 2010.
• 伊達貴徳, 萩原 汐, 上薗 巧, 佐藤高史, 益 一哉. SRAM回路の構造的対称性を考慮した2段階学習型重点的サンプリング, VLSI設計技術研究会 システム設計及び一般, VLSI設計技術研究会 システム設計及び一般，信学技報, VLSI設計技術研究会 システム設計及び一般, vol. 109, no. 34, pp. 37-42, May 2009.
• 伊達貴徳, 萩原 汐, 佐藤高史, 中山範明, 益 一哉. 回路特性ばらつき解析に対する重点的サンプリングの適用検討, 電子情報通信学会ソサイエティ大会, 電子情報通信学会ソサイエティ大会, A-1-27, pp. 27, Sept. 2008.

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