論文

• Sarinrat Wonglee, Tsutomu Tada, Hitoshi Fukuda, Jun Hasegawa, Yoshiyuki Oguri. Chemical speciation of chlorine in particulate matter by wavelength-dispersive PIXE technique, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, Vol. 269, pp. 3111–3114, Apr. 2011.
• S. Wonglee, T. Tada, H. Fukuda, J. Hasegawa, Y. Oguri. Development of a Target Positioning System Based on a Laser Position Sensor for High-Efficiency Wavelength-Dispersive PIXE Analysis, International Journal of PIXE, World Scientific, Vol. 20, No. 1&2, pp. 1-9, Sept. 2010.
• T. Tada, H. Fukuda, J. Hasegawa, Y. Oguri. Application of a wavelength dispersive particle induced X-ray emission system to chemical speciation of phosphorus and sulfur in lake sediment samples, Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, Elsevier, Volume 65, Page 46-50, Jan. 2010.
• T. Tada, H. Fukuda, J. Hasegawa, Y. Oguri. Target Temperature rise and gas emission during chemical state analysis by WD-PIXE measurement, The 20th International Congress on X-ray Optics and Microanalysis, AIP Conference Proceedings, Dec. 2009.
• T. Tada, H. Fukuda, J. Hasegawa, Y. Oguri, M. Tsuji. Chemical speciation of sulfur in activated carbon by wavelength-dispersive PIXE technique, X-Ray Spectrometry, Wiley InterScience, Volume 38, # 3, Page 239-243, May 2009.
• T. Tada, H. Fukuda, J. Hasegawa, Y. Oguri. In-situ observation of chemical state change of sulfur in solid targets during MeV proton irradiation, European Conference on X-ray Spectrometry 2008, X-Ray Spectrometry, Wiley InterScience, Volume 38, # 3, Page 200-204, May 2009.
• T. Tada, S. Wonglee, H. Fukuda, J. Hasegawa, Y. Oguri. Measurement of Chemical State Change of Phosphorus during MeV-Proton Irradiation by a High-Resolution Wavelength-Dispersive PIXE System, The 16th Annual Meeting of the Japan Society for Particle Induced X-ray Emission (PIXE) Research, International Journal of PIXE, World Scientific, Vol. 19, No. 1-2, pp. 9-15, 2009.
• T. Tada, M. Hayashi, H. Fukuda, J. Hasegawa, Y. Oguri. Chemical Shift Measurements of Chlorine K X-ray Spectra Using a High-Resolution PIXE System, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, Elsevier, Vol. 266, No. 10, pp. 2292-2295, May 2008.
• J. Hasegawa, T. Tada, Y. Oguri, M. Hayashi, T. Toriyama, T. Kawabata, K. Masai. Development of a High-Efficiency High-Resolution Particle-Induced X-Ray Emission System for Chemical State Analysis of Environmental Samples, Review of Scientific Instruments, American Institute of Physics, Vol. 78, No. 7, pp. 073105-1-6, July 2007.

国際会議発表 (査読なし・不明)

• S. Wonglee, T. Tada, hitoshi fukuda, Jun Hasegawa, Y. Oguri. Chemical Speciation of Chlorine in Particulate Matter by Wavelength-Dispersive PIXE Technique, The 10th European Conference on Accelerators in Applied Research and Technology (ECAART10), Sept. 2010.
• T. Tada, H. Fukuda, J. Hasegawa, Y. Oguri. Temperature rise and gas emission during chemical state analysis by WD-PIXE measurement, 20th International Congress on X-ray Optics and Microanalysis, ICXOM20 - Book of Abstracts, pp. 11, Sept. 2009.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 多田勉, Sarinrat Wonglee, 福田一志, 長谷川純, 小栗慶之. 波長分散型PIXE法による環境試料分析に向けた照射損傷に伴う元素の化学状態変化の研究, 日本原子力学会 2010年春の年会, Mar. 2010.
• Sarinrat Wonglee, Tsutomu Tada, Hitoshi Fukuda, Jun Hasegawa, Yoshiyuki Oguri. Development of a target positioning system for wavelength-dispersive PIXEanalysis using a laser position sensor, 第26回PIXEシンポジウム, Nov. 2009.
• 多田勉, 福田一志, 長谷川純, 小栗慶之, 辻正道. 波長分散型陽子線励起X線放出分析法を用いた活性炭中硫黄の化学状態分析, 第70回分析化学討論会, 第70回分析化学討論会 講演要旨集, p. 47 (C1014), May 2009.
• 多田勉, Sarinrat Wonglee, 福田一志, 長谷川純, 小栗慶之. 高分解能PIXE分析による陽子線照射に伴う第三周期元素標的の化学状態変化のその場観察, 日本原子力学会2009年春の年会, 日本原子力学会2009年春の年会予稿集, p. 354, Mar. 2009.
• 多田勉, Sarinrat Wonglee, 福田一志, 長谷川純, 小栗慶之. WD-PIXE分析法による堆積物中硫黄・リンの化学状態分析, 第44回X線分析討論会, 第44回X線分析討論会 講演要旨集, p. 135, Oct. 2008.
• 多田 勉, Sarinrat Wonglee, 長谷川純, 福田一志, 小栗慶之. WD-PIXE分析法を用いた陽子線照射によるリンの化学状態変化の観察, 第25回PIXEシンポジクム, 第25回PIXEシンポジウム要旨集, 群馬大学医学部, p. 32, Sept. 2008.
• 多田勉, 福田一志, 長谷川純, 小栗慶之. 陽子ビーム照射損傷による硫黄・リンの化学状態変化, PIXE分析法とその周辺に関する討論会, Aug. 2008.
• 多田勉, 福田一志, 長谷川純, 小栗慶之. 高分解能PIXE分析による硫黄のK X線の測定, 日本原子力学会 2008年春の年会 学生ポスターセッション, Mar. 2008.
• 多田 勉, 長谷川 純, 福田一志, 小栗慶之. 波長分散型PIXE測定装置を用いたCrLX線の測定, 第24回PIXEシンポジウム, 第24回PIXEシンポジウム要旨集, p. 27, Sept. 2007.
• 多田勉, He Rui, 林 通晴, 金子順一, 福田一志, 長谷川 純, 小栗慶之. von Hamos型結晶を用いた波長分散型PIXE測定装置の開発, 第22回PIXEシンポジウム, 第22回PIXEシンポジウム要旨集, p. 3, 2005.
• He Rui, T.Tada, J.Kaneko, J.Hasegawa, Y.Oguri. Development of a WDS for PIXE Analysis of Environmental Samples, 21th PIXE Symposium, 第21回PIXEシンポジウム要旨集, p. 19, Nov. 2004.

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