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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Analysis of variation in leakage currents of Lanthana thin films 
著者
和文: Y. Kim, S. Ohmi, K. Tsutsui, H. Iwai.  
英文: Y. Kim, S. Ohmi, K. Tsutsui, H. Iwai.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Solid-State Electronics 
巻, 号, ページ Vol. 49        pp. 825-833
出版年月 2005年 
出版者
和文: 
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会議名称
和文: 
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開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1016/j.sse.2005.01.022

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