３次元き裂の応力拡大係数の数値解析評価精度の向上について | T2R2 東京科学大学リサーチリポジトリ

論文・著書情報

タイトル

和文:	３次元き裂の応力拡大係数の数値解析評価精度の向上について
英文:

著者

和文:	植木健司, 渋谷壽一, 岸本喜久雄, 井上裕嗣.
英文:	植木健司, 渋谷壽一, 岸本喜久雄, 井上裕嗣.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	日本機械学会論文集(A編)
英文:

巻, 号, ページ

Vol. 65 No. 629 pp. 72-79

出版年月

1999年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

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英文:

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